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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]. -- Academic Press, 1983. <BB00841190>
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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]. -- Academic Press, 1983. <BB00841190>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 相模原分館 相自動書庫図書 153.93||N1 009525277 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相自動書庫図書
請求記号 153.93||N1
資料ID 009525277
状態
コメント
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing / edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]
出版・頒布事項 New York : Academic Press , 1983
形態事項 xvii, 345 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0127427805
注記 Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al
注記 Includes bibliographies and indexes
NCID BA00680204
本文言語コード 英語
著者標目リンク Weiss, David J. <AU40122441>
著者標目リンク Bock, R. Darrell <AU40122442>
著者標目リンク Computerized Adaptive Testing Conference <AU40122443> Wayzata, Minn., 1979
著者標目リンク United States. Office of Naval Research <AU40086546>
分類標目 LCC:BF176
分類標目 DC19:153.9/3
件名標目等 Psychological tests -- Congresses
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