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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB01046986>
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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB01046986>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 相模原分館 相2F一般400 428.4||B73H 880405702 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相2F一般400
請求記号 428.4||B73H
資料ID 880405702
状態
コメント
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 東京 : アグネ承風社 , 2003.7
形態事項 xix, 429p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 4900508101
その他の標題 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
注記 引用文献: 各章末
注記 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
NCID BA62889819
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Briggs, D. <AU40147831>
著者標目リンク Seah, M. P. <AU40147832>
著者標目リンク 志水, 隆一||シミズ, リュウイチ <AU40147834>
著者標目リンク 二瓶, 好正(1940-)||ニヘイ, ヨシマサ <AU40062127>
著者標目リンク 新SIMS研究会
シン シムス ケンキュウカイ <>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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