青山学院大学図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス MyLibrary（利用者サービス）▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • 新着アラート
    • ILL複写依頼（他機関への文献複写依頼）
    • ILL貸借依頼（他機関への文献貸借依頼）
    • 新規購入依頼
    • 論文登録
    • オリエンテーション予約（教員）
    • オンライン施設予約

青山学院大学図書館

前の画面へ戻る

LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB01096762>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB01096762>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 相模原分館 相2F一般500 549.7||N73L 880711742 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相2F一般500
請求記号 549.7||N73L
資料ID 880711742
状態
コメント
予約 0件
WEB書棚
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著
LSI コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
出版・頒布事項 東京 : 工業調査会 , 2007.11
形態事項 221p, 図版[7]p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784769312697
その他の標題 標題紙タイトル:LSI failure analysis
その他の標題 異なりアクセスタイトル:LSI故障解析技術のすべて : 開発促進歩留向上信頼性向上のキーテクノロジー
エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
注記 参考文献: p[205]-214
NCID BA84153482
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU50048193>
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
分類標目 電子工学 NDC9:549.7
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
このページのTOPへ
前の画面へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    この書誌のQRコード