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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012. <BB01053761>
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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012. <BB01053761>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 相模原分館 相2F一般500 549.8||N73H||2012 881204820 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相2F一般500
請求記号 549.8||N73H||2012
資料ID 881204820
状態
コメント
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 森北出版 , 2012.9
形態事項 xi, 179p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784627774421
注記 初版: 工業調査会, 2000年刊
注記 参考文献・引用文献: p169-175
NCID BB10206954
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU50048193>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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