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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013. <BB01201121>
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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013. <BB01201121>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 相模原分館 相2F一般500 549.8||A62H 881401946 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相2F一般500
請求記号 549.8||A62H
資料ID 881401946
状態
コメント
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
出版・頒布事項 東京 : 丸善プラネット , 2013.8
形態事項 viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
巻号情報
ISBN 9784863451728
注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
注記 文献あり
NCID BB13216182
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 荒井, 英輔||アライ, エイスケ <AU40080450>
著者標目リンク 塩野, 登(1947-)||シオノ, ノボル <AU60056652>
著者標目リンク 岩根, 眼藏
イワネ, ガンゾウ <>
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体 -- 品質管理||ハンドウタイ -- ヒンシツカンリ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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