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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB01256111>
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光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB01256111>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 予約 WEB書棚
0001 青山本館 青3F和図一般 371.7||M3-2 002208113 0件
0002 相模原分館 相1F一般300 371.7||MI66T 882300794 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 青山本館
配置場所 青3F和図一般
請求記号 371.7||M3-2
資料ID 002208113
状態
コメント
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 相模原分館
配置場所 相1F一般300
請求記号 371.7||MI66T
資料ID 882300794
状態
コメント
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
出版・頒布事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9
形態事項 ix, 239p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN 9784779516832
その他の標題 裏表紙タイトル:Item response theory
その他の標題 その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方
テスト ワ ナニ オ ハカル ノカ : コウモク ハンノウ リロン ノ カンガエカタ
その他の標題 標題紙タイトル:test
注記 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」(2017年刊)の姉妹編
注記 参考文献: p233-237
注記 事項索引: p238
注記 人名索引: p.239
NCID BC17143066
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 光永, 悠彦 (1979-)||ミツナガ, ハルヒコ <AU60074657>
著者標目リンク 西田, 亜希子 (1976-)||ニシダ, アキコ <AU60101776>
分類標目 教育学．教育思想 NDC9:371.7
分類標目 幼児・初等・中等教育 NDC9:376.8
分類標目 幼児・初等・中等教育 NDC10:376.87
分類標目 教育 NDLC:FB35
件名標目等 教育測定||キョウイクソクテイ
件名標目等 試験 (教育)||シケン(キョウイク)
件名標目等 入学試験(大学)||ニュウガク シケン(ダイガク)
件名標目等 入学試験 -- 大学 -- 日本||ニュウガクシケン -- ダイガク -- ニホン
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